Молодкин В.Б., Бровчук С.М., Низкова А.И., Лизунова С.В. «Универсальная модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в кристаллах с дефектами» XI Российская конференция по физике полупроводников, Санкт-Петербург, 16–20 сентября 2013 г. Тезисы докладов, с. 326 (2013)

Метод неразрушающей диагностики дефектов с помощью деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) (R_i) при деформации монокристалла с помощью ультразвуковых колебаний целесообразно применять в области промежуточных толщин монокристалла. Целью работы является разработка единой модели ДЗ ПИИДД(R_ib) для кристаллов любой толщины.