Российский фонд
фундаментальных
исследований

Физический факультет
МГУ им. М.В.Ломоносова
 

17 Физика

 

Андреев В.Г., Ангелуц А.А., Вдовин В.А., Лукичев В.Ф., Шкуринов А.П. «Особенности электрической проводимости пленок хрома нанометровой толщины» Радиотехника и электроника, 61, № 1, с. 66-71 (2016)

Изучены особенности взаимодействия электромагнитного излучения терагерцевого диапазона с пленками хрома нанометровой толщины, напыленными на кварцевую подложку. Измерены оптические коэффициенты тонких пленок хрома с толщиной от 1.5 до 40 нм в диапазоне частот 0.25–1.1 ТГц. Измерения выполнены с использованием генератора импульсов пикосекундной длительности по схеме импульсной спектроскопии. Зарегистрирован максимум коэффициента поглощения 43% при толщине пленки 10 нм. Теоретический расчет оптических коэффициентов выполнен с использованием соотношений, учитывающих феноменологическую зависимость проводимости пленки от толщины. Показано, что проводимость толстых пленок хрома (20–40 нм) на порядок ниже, чем проводимость объемного металла. 29.35.33 (по ГРНТИ)

Радиотехника и электроника, 61, № 1, с. 66-71 (2016) | Рубрика: 17

 

Андреев В.Г., Ангелуц А.А., Вдовин В.А., Лукичев В.Ф. «Спектральные характеристики пленок хрома нанометровой толщины в терагерцовом диапазоне частот» Письма в Журнал технической физики, 41, № 4, с. 52-60 (2015)

Методами электронной микроскопии, энергодисперсионного рентгеновского микроанализа и комбинационного рассеяния света проведены исследования кремниевых анодов литий-ионных аккумуляторов, подвергшихся циклическим испытаниям разной длительности. Показано, что наблюдаемая деградация разрядной емкости электродов, созданных на основе макропористого кремния, обусловлена процессами механического разрушения кремниевых стенок и формирования аморфной фазы Si–Li, которые возникают уже на начальной стадии испытаний. Установлено, что число трещин и степень разупорядочения кристаллической решетки кремния нарастают с числом циклов литирования и характеризуются неоднородностью распределения по высоте стенок, что свидетельствует о преимущественном внедрении лития в верхнюю часть структуры, примыкающую к сепаратору. На основе анализа спектров комбинационного рассеяния света проведено сравнение степени разупорядочения кристаллической решетки литированных образцов со стандартным аморфным кремнием. 29.35.33 (по ГРНТИ)

Письма в Журнал технической физики, 41, № 4, с. 52-60 (2015) | Рубрика: 17