Российский фонд
фундаментальных
исследований

Физический факультет
МГУ им. М.В.Ломоносова
 

Кристаллография. 2020. 65, № 4

 

Шибков А.А., Гасанов М.Ф., Золотов А.Е., Денисов А.А., Кочегаров С.С., Кольцов Р.Ю. «Высокоскоростные in situ-исследования корреляций между формированием полос деформации и акустическим откликом в алюминий-магниевом сплаве» Кристаллография, 65, № 4, с. 553-561 (2020)

Динамику деформационных полос в алюминий-магниевом сплаве исследовали синхронно двумя in situ-методами: методом акустической эмиссии (АЭ) и высокоскоростной видеосъемкой со скоростью 20 000 кадров/с поверхности образца, деформируемого с заданной скоростью роста напряжения σ0. Установлено, что полоса зарождается в случайной позиции на боковой поверхности плоского образца и в форме иглообразного зародыша растет под углом около 60° к оси растяжения со скоростью движения вершины до ∼10 м/с. Зарождение, рост и выход на противоположную боковую поверхность зародыша полосы сопровождаются широкополосным сигналом АЭ в полосе частот ∼102–106 Гц. Низкочастотная составляющая сигнала АЭ в полосе ∼0.1–1 кГц связана с макроскопическим поведением полосы, а высокочастотная – в полосе ∼0.1–1 МГц несет информацию о мезоскопических событиях, связанных со скачками скорости вершины зародыша полосы и его выходом на внешнюю поверхность образца. Обсуждаются механизмы генерирования сигналов АЭ.

Кристаллография, 65, № 4, с. 553-561 (2020) | Рубрики: 05.04 06.03

 

Баскаков Е.Б., Стрелов В.И., Бендрышев Ю.Н. «Исследование влияния ультразвука на адгезию в тонкопленочных термоэлектрических генераторах на основе SmS» Кристаллография, 65, № 4, с. 630-634 (2020)

Исследовано влияние ультразвука на адгезию системы Ni–SmS–Ni в тонкопленочных термоэлектрических генераторах на основе SmS. Установлено, что при воздействии ультразвука происходит ухудшение адгезии между пленкой SmS и токопроводящей контактной площадкой Ni, что приводит к ухудшению электрофизических параметров генерации. Показано, что использование Cr в качестве подслоя между SmS и Ni улучшает адгезию и не приводит к существенным ухудшениям электрофизических параметров генерации.

Кристаллография, 65, № 4, с. 630-634 (2020) | Рубрики: 06.23 14.04