Рощупкин Д.В., Иржак Д.В. «Электронно-микроскопические и рентгеновские методы исследования акустических волновых полей в пьезоэлектрических кристаллах» Нано- и микросистемная техника, № 3, с. 40-52 (2007)

Методы растровой электронной микроскопии, рентгеновской топографии и дифрактометрии являются универсальными методами, позволяющими визуализировать процесс распространения объемных и поверхностных, бегущих и стоячих акустических волн в режиме реального времени. Данные методы позволяют определять амплитуды и длины акустических волн, исследовать дифракционные явления в акустических пучках, измерять углы сноса потока акустической энергии, изучать влияние дефектов кристаллической решетки на процесс распространения акустических волн.