Рабинович О.И., Якушко Е.В. «Неразрушающий способ изучения потенциального изменения параметров излучающих диодов» Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, № 5, с. 56-59 (2013)

Представлены результаты изучения влияния ультразвуковых колебаний на излучающие диоды. Предложен неразрушающий экспресс-метод прогнозирования срока службы излучающих диодов. Методика позволяет составить прогноз степени деградации фотометрических и электрических характеристик излучающих диодов, максимально сократить необходимое временя для исследований, повысить достоверность определения причин деградации и сортировки приборов по параметрам. Она может быть использована в области проектирования производства этих приборов для оценки их качества изготовления и прогнозирования срока службы. В частности, предлагаемый способ может быть использован для определения качества и оптимальности выбора режимов технологической операции приварки контактных проводников к омическим контактам кристаллов методом термоультразвуковой сварки. Ключевые слова: светоизлучающие диоды, ультразвук, GaN, AlGaInN.