Российский фонд
фундаментальных
исследований

Физический факультет
МГУ им. М.В.Ломоносова
 

Журнал технической физики. 2009. 79, № 3

 

Глазов А.Л., Муратиков К.Л. «О возможности детектирования приповерхностных технологических напряжений в керамике методом фотоакустической микроскопии» Журнал технической физики, 79, № 3, с. 105-109 (2009)

Экспериментально исследовано влияние приповерхностных технологических напряжений на фотоакустические изображения мест индентации по Виккерсу в керамике нитрида кремния. Продемонстрировано влияние напряжений, вводимых в керамику в процессе шлифовки и полировки ее поверхностей, на поведение фотоакустических сигналов вблизи концов приповерхностных трещин. Показано, что данные фотоакустической микроскопии, полученные вблизи концов трещин в керамике, индентированных по Виккерсу, позволяют оценить величину присутствующих в них технологических напряжений.

Журнал технической физики, 79, № 3, с. 105-109 (2009) | Рубрика: 06.17