Шарков А.И., Галкина Т.И., Клоков А.Ю. «Зондирование многослойной структуры Si/SiGe потоком неравновесных акустических фононов» Физика твердого тела, 51, № 10, с. 1924-1927 (2009)

Двойные квантовые ямы Si/Si_0.8Ge_0.2/Si, выращенные на подложке кремния, зондировались потоком неравновесных акустических фононов терагерцевых частот при использовании метода тепловых импульсов в геометрии “на отражение”. Сопоставление зарегистрированных сигналов прихода фононов с аналогичными измерениями для образца кремния без структуры квантовых ям позволяет выделить составляющую, обусловленную именно отражением фононов от квантовых ям. Обнаружена сильная анизотропия этого отраженного сигнала.