Российский фонд
фундаментальных
исследований

Физический факультет
МГУ им. М.В.Ломоносова
 

Перспективные материалы. 2015, № 3

 

Шут В.Н., Мозжаров С.Е., Полейко А.Д., Мастыко Л.П., Кашевич И.Ф. «Влияние ультразвуковой активации порошков на основе титаната бария на электрофизические свойства конденсаторной керамики, полученной по толстопленочной технологии» Перспективные материалы, № 3, с. 34-39 (2015)

Исследованы пористость и электрические параметры многослойных керамических конденсаторов, полученных из обычных и активированных ультразвуком исходных порошков на основе титаната бария. Конденсаторные материалы, полученные из активированных ультразвуком порошков, имеют более низкую пористость (∼3,7%) по сравнению с керамикой, синтезированной из обычных порошков (∼6,2%). Наблюдается снижение среднего размера пор при использовании активированных исходных материалов. Следствием увеличения плотности и однородности керамики является повышение электрофизических характеристик конденсаторов, полученных по толстопленочной технологии – пробивное напряжение возрастает более чем на 10%, снижается температурный коэффициент емкости. Показано, что применение активных мелкокристаллических исходных материалов является эффективным способом повышения эксплуатационных характеристик многослойных керамических конденсаторов.

Перспективные материалы, № 3, с. 34-39 (2015) | Рубрика: 14.05

 

Шут В.Н., Мозжаров С.Е., Полейко А.Д., Мастыко Л.П., Кашевич И.Ф. «Влияние ультразвуковой активации порошков на основе титаната бария на электрофизические свойства конденсаторной керамики, полученной по толстопленочной технологии» Перспективные материалы, № 3, с. 34-39 (2015)

Исследованы пористость и электрические параметры многослойных керамических конденсаторов, полученных из обычных и активированных ультразвуком исходных порошков на основе титаната бария. Конденсаторные материалы, полученные из активированных ультразвуком порошков, имеют более низкую пористость (∼3,7%) по сравнению с керамикой, синтезированной из обычных порошков (∼6,2%). Наблюдается снижение среднего размера пор при использовании активированных исходных материалов. Следствием увеличения плотности и однородности керамики является повышение электрофизических характеристик конденсаторов, полученных по толстопленочной технологии – пробивное напряжение возрастает более чем на 10%, снижается температурный коэффициент емкости. Показано, что применение активных мелкокристаллических исходных материалов является эффективным способом повышения эксплуатационных характеристик многослойных керамических конденсаторов.

Перспективные материалы, № 3, с. 34-39 (2015) | Рубрика: 14.05