Митрохин В.И., Рембеза С.И., Антонов Р.Н. «Сканирующий лазерный фотоакустический микроскоп для исследования высокоомных пьезополупроводников» Вестник Воронежского государственного технического университета, 7, № 7, с. 65-68 (2011)

Представлен новый способ фотоакустической микроскопии высокоомных пьезополупроводников, основанный на изменении внутреннего трения под действием оптического излучения от лазерного луча, вызывающего внутренний фотоэффект в полупроводнике. Изложены принципы построения фотоакустического микроскопа, управляемого с помощью микроконтроллера и персонального компьютера.