Российский фонд
фундаментальных
исследований

Физический факультет
МГУ им. М.В.Ломоносова
 

Квантовая электроника. 2013. 43, № 3

 

Каминский А.А., Таранов А.В., Хазанов Е.Н. «Фононная спектроскопия структуры оксидных кристаллокерамик» Квантовая электроника, 43, № 3, с. 282-287 (2013)

Описан метод исследования особенностей структуры и фононного спектра оксидных поликристаллических керамик. Установлена связь величины коэффициента диффузии фононов с субтерагерцевыми частотами со свойствами системы межзеренных границ, размером и структурой зерен. Показано, что при гелиевых температурах зависимость коэффициента диффузии фононов от температуры определяется спектральными свойствами межзеренного слоя, что позволяет оценить средние по объему образца значения его толщины и акустического импеданса. Проанализировано влияние процессов пластической деформации двойникованием на формирование структуры зерен и межзеренных слоев, определяющих теплофизические, акустические и оптические характеристики керамического материала.

Квантовая электроника, 43, № 3, с. 282-287 (2013) | Рубрика: 06.07