Юджель Х., Каплунов Д., Эге Н., Эрбаш Б. «Асимптотический вывод совместных уравнений для тонкой оболочки в виде упругого кольца, заполненного жидкостью» Прикладная механика и техническая физика, 65, № 2, с. 164-176 (2024)

Рассматривается классическая гармоническая по времени задача о плоской деформации цилиндрической упругой оболочки, нагруженной жидкостью. Представлены результаты низкочастотного асимптотического анализа. Получены явные формулы для собственных частот. Сформулирована уточненная теория полумембранных оболочек. Показано, что инерция оболочки не оказывает существенного влияния на низшие собственные частоты. Установлено, что окружная компонента напряжения изменяется по параболическому закону

Петряшин И.Е., Юдин Д.А. «Нейросетевая детекция голосовой активности для распознавания речи в реальном времени (» Труды Московского физико-технического института (государственного университета) (МФТИ), 15, № 4(60), с. 49-57 (2023)

Исследуется задача распознавания речи в зашумленной среде в реальном времени. Предлагается оригинальный подход адаптации современных нейросетевых алгоритмов детекции голосовой активности RealVADR для решения задачи распознавания речи в реальном времени с использованием обработки интервалов звука. Рассматривается влияние параметров данного алгоритма на качество распознавания речи, а также методы оптимизации его параметров. Проведены эксперименты как на существующем открытом наборе данных CommonVoice, так и на нескольких собственных наборах данных, собранных в шумной робототехнической среде. Они показали, что применение предложенного подхода позволяет получить в реальном времени качество распознавания, сравнимое с офлайн-распознаванием.

Юй В., Старинова О.Л. «Характеристики резонансных орбит солнечных парусов вблизи точки L2 в системе Земля–Луна» Вестник Московского авиационного института, 31, № 2, с. 155-163 (2024)

В рамках будущих проектов по исследованию и освоению Луны, спутники-ретрансляторы для связи между Землей и Луной, особенно обратной стороной и полярными регионами Луны, где планируют построить постоянные базы, вызывают значительный интерес. Резонансные орбиты, сформированные с применением солнечных парусов, имеют регулируемые формы и положения орбит при фиксированных периодах обращения и могут лучше соответствовать требованиям для размещения определенных спутников-ретрансляторов по сравнению с естественными периодическими орбитами. В данной статье разработана методика определения резонансных орбит около точки либрации L2 в системе Земля–Луна на основе круговой ограниченной модели динамики трех тел с использованием метода множественной стрельбы. Кроме того, рассмотрены изменение резонансных орбит под влиянием изменений начального положения Солнца, величины номинального ускорения от светового давления и углов установки солнечного паруса. В результате исследования получены новые типы периодических орбит для размещения спутников-ретрансляторов в системе Земля–Луна, и зависимости изменения резонансных орбит от проектных параметров и параметров управления космических аппаратов с солнечным парусом.

Юлдашев Т.К. «Смешанное дифференциальное уравнение типа Буссинеска» Вестник Волгоградского государственного университета. Серия 1: Математика. Физика, 19, № 2, с. 13-26 (2016)

Рассмотрены вопросы разрешимости и построения решения нелокальной смешанной задачи для однородного смешанного дифференциального уравнения типа Буссинеска. Использован спектральный метод, основанный на разделение переменных. Решение поставленной задачи представляется в виде ряда Фурье с разделенными переменными. Установлен критерий единственности решения. При выполнении этого критерия доказана однозначная разрешимость задачи. Когда нарушается критерий единственности, решение данной задачи при определенных условиях представляется в виде суммы рядов Фурье.

Зайнабидинов С.З., Юлдашев Ш.У., Бобоев А.Й., Юнусалиев Н.Ю. «Рентгенодифракционные и электронно-микроскопические исследования металлооксидных пленок ZNO(S), полученных методом ультразвукового спрей-пиролиза» Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Серия: Естественные науки, № 1, с. 78-92 (2024)

Получены образцы тонких пленок ZnO(S) толщиной примерно 400 нм, напыленных на кремниевую подложку методом ультразвукового спрей-пиролиза. Пленки имеют кристаллографическую ориентацию (001) со значениями параметров решетки а≪em>b=0,3265 нм и c=0,5212 нм. Нанокристаллиты ZnO_1–хS_х на поверхности пленки имеют характерные размеры в пределах 50–200 нм. Экспериментально определен параметр решетки нанокристаллитов: 0,7598 нм. Установлено уменьшение параметров решетки пленки ZnO и геометрических размеров нанокристаллитов на поверхности пленки под влиянием γ-облучения. Определено, что кристаллическое строение нанокристаллитов соответствует кубической решетке и принадлежит пространственной группе F43m с параметром решетки 0,7692 нм. По данным сканирующей электронной микроскопии, диаметр нанокристаллитов составляет 50–200 нм, нанокристаллиты растут перпендикулярно к подложке вдоль оси z с кристаллографической ориентацией (111). Установлено, что влияние γ-облучения дозой 5·10⁶ рад позволяет уменьшить размеры нанокристаллитов и приводит к изменению их плотности и геометрической формы

Зайнабидинов С.З., Юлдашев Ш.У., Бобоев А.Й., Юнусалиев Н.Ю. «Рентгенодифракционные и электронно-микроскопические исследования металлооксидных пленок ZNO(S), полученных методом ультразвукового спрей-пиролиза» Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Серия: Естественные науки, № 1, с. 78-92 (2024)

Получены образцы тонких пленок ZnO(S) толщиной примерно 400 нм, напыленных на кремниевую подложку методом ультразвукового спрей-пиролиза. Пленки имеют кристаллографическую ориентацию (001) со значениями параметров решетки а≪em>b=0,3265 нм и c=0,5212 нм. Нанокристаллиты ZnO_1–хS_х на поверхности пленки имеют характерные размеры в пределах 50–200 нм. Экспериментально определен параметр решетки нанокристаллитов: 0,7598 нм. Установлено уменьшение параметров решетки пленки ZnO и геометрических размеров нанокристаллитов на поверхности пленки под влиянием γ-облучения. Определено, что кристаллическое строение нанокристаллитов соответствует кубической решетке и принадлежит пространственной группе F43m с параметром решетки 0,7692 нм. По данным сканирующей электронной микроскопии, диаметр нанокристаллитов составляет 50–200 нм, нанокристаллиты растут перпендикулярно к подложке вдоль оси z с кристаллографической ориентацией (111). Установлено, что влияние γ-облучения дозой 5·10⁶ рад позволяет уменьшить размеры нанокристаллитов и приводит к изменению их плотности и геометрической формы