Кириченко И.А., Вишневецкий В.Ю., Старченко И.Б., Строчан Т.П., Марколия А.И., Сизов И.И. «Применение кепстральной обработки эхосигналов при профилировании слоистой структуры с использованием параметрических антенн» Акустический журнал, 67, № 3, с. 286-290 (2021)

При разведке донных отложений важной задачей является определение границ слоистой структуры. Эхоимпульс является суперпозицией отражений от нескольких границ раздела и акустическая ситуация становится неинформативной. При перекрытии эхосигналов от различных границ, превышающем 50% от длительности импульса, был применен метод кепстрального анализа отраженных сигналов. Кепстр эхосигнала от слоистой структуры позволил выделить моменты прихода составляющих отражений. Показано, что кепстр низкочастотного эхоимпульса позволяет однозначно определить момент прихода эхосигнала от второй границы раздела при перекрытии меньшем 90%. Статья подготовлена по материалам доклада на 3-й Всероссийской акустической конференции (21–25 сентября 2020 г., Санкт-Петербург). DOI: 10.31857/S0320791921030060